众所周知，表面的形貌对材料的体积特性有很大的影响。很多时候，在表面异常中存在纳米尺度的形貌，人们对其产生的影响感兴趣。该表面形貌主要通过显微测量进行研究和观察。
表面形貌的表征在许多领域变得越来越重要，通过显微镜设备(如SEM，扫描电子显微镜)分辨率的提高和简化，从复杂和专用的操作到台式、用户友好的设备的转变已经改变了行业。
两全其美
天工天工世界扫描电子显微镜(SEM)产品线从零开始设计，不仅创建最多功能的仪器，以满足日益竞争的科学社区的需求，而且也为用户创造最满意的体验。Phenom SEM产品的一个独特的特点是标准的背散射电子探测器(BSD)。这允许用户分析样品的拓扑和基本特征，以及其他一些后处理分析，如3D表面重建，孔径，粒径和纤维分析。
