可用的微观功能
- 种类可见光显微镜
- 扫描电镜-扫描电子显微镜
- TEM–透射电子显微镜
- EDS–能量色散X射线光谱学
- 显微红外光谱-傅里叶变换红外光谱
- SWLIM-扫描白光干涉显微镜
- 共焦拉曼显微镜/光谱学
光学显微镜：
小颗粒的分类和识别从使用透射光和反射光组合的显微镜观察颗粒开始。通过显微镜拍摄的粒子可以测量并显示在报告或广告中，尤其是当粒子具有独特的特性时。我们有几种不同的光学显微镜，以满足观察样品所需的放大倍数。
扫描电镜(SEM):
当需要进行第二次测试以确认光学显微镜的观察结果时，或者当粒子不透明时，可以使用电子而不是光对粒子进行成像和分析。直接的区别是，扫描电镜产生的图像是灰度级的。这些图像显示了比光学显微镜更好的景深和细节，还有一个额外的好处，即当电子轰击样品时，会产生代表样品中元素的x射线。通过添加能量色散x射线光谱仪（EDS），它能够在对样品成像时确定样品中存在的元素。
透射电子显微镜（TEM）：
必须在透射电子显微镜中观察和分析太小而无法通过光学显微镜或扫描电子显微镜进行分析和成像的颗粒。对于薄样品或可以变薄的样品，TEM成像技术可以揭示颗粒的晶体结构及其元素组成（EDS）。粘土、颜料颗粒、薄膜和其他纳米颗粒可以在TEM中进行分析和鉴定。一些材料，如薄矿物纤维、粘土颗粒和煤烟，只需很少的准备工作即可进行分析。其他材料在分析前需要大量的样品制备。
微傅里叶变换红外光谱(FTIR):
塑料颗粒（容易变形）可以使用使用反射和透射红外光的显微镜进行表征。需要表征和识别的聚合物材料可用于FTIR。由此产生的红外光谱可以与数千个参考光谱进行比较，以确定聚合物的类型。有时成品中会出现不需要的颗粒的生产设施将保留一个红外光谱参考库，用于识别其工艺中使用的材料，以帮助确定客户退货的特征。
扫描白光干涉显微术:
表面的表征需要一种稍微不同的方法，使用显微镜测量表面粗糙度并提供表面的三维图像。该显微镜利用反射的白光通过焦点进行扫描，创建三维数据集，从中可以计算表面粗糙度参数。与触针轮廓术不同，SWLIM是一种非接触技术，几乎不需要或不需要样品制备。