托尼·桑顿，Micromeritics技术信息总监

Micromeritics Instrument Corp.引入了一系列新的二级标准，这使得它更容易在通过气体吸附表征表面积时演示最高水平的数据完整性。可追踪到NIST(国家标准与技术研究所)或BAM(Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung)标准，新材料特别适用于严格监管环境下的分析，如制药行业。通过常规分析这些高度稳定、严格表征的标准，任何气体吸附系统(Micromeritics或其他供应商)的用户都可以可靠地验证仪器的性能。

micromertics公司技术信息总监Tony Thornton表示:“气体吸附系统通过测量相对简单的参数(如温度和压力)生成表面积数据，无需进行日常校准。“然而，定期检查性能是一种很好的做法，我们已经提供了特征良好的材料来支持这一活动。这些新的参考材料的不同之处在于，它们是可追溯的，符合NIST/BAM标准，我们知道，这一区别对某些行业的客户来说至关重要。”

Micromeritics将提供四种可追溯的二次表面积标准;其中一个已经到位，两个将在未来三个月内释放，还有一个很快就会释放。这些标准的表面积范围为1到175平方米/克，这使得选择一个与绝大多数工业应用相匹配的标准成为可能。每种材料都用多种仪器进行了多次分析，包括公司的Gemini、TriStar、3-Flex和ASAP系列的系统，得出了全球平均结果。该结果所提供的材料具有相关的精度限制，以及相应的测试方法。参考资料的鉴定期为10年，个别样品瓶在开瓶后1年失效。

托尼·桑顿说:“这是我们一段时间以来一直想要落实的产品。”“我很高兴它现在可以使用，并将在未来很多年继续使用。无论使用哪种气体吸附系统，这些新的参考材料都将受到那些希望展示最高水平数据完整性的质量管理人员的欢迎。”